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特邀司特爾專家分享:電子半導體行業樣品制備和失效分析技術

 更新時間:2025-06-09 點擊量:81

在電子半導體行業,樣品制備對于失效分析至關重要。司特爾提供的制樣設備,如精密切割,真空浸漬鑲嵌和機械磨拋,確保樣品分析前的最佳處理效果。使用氬離子研磨儀可以對樣品進行無應力的拋光或者切削處理,便于后續掃描電鏡的高分辨和快速的分析,以深入分析材料的微觀結構和性能,尋找失效原因。

本次會議特邀司特爾應用專家,通過行業前沿技術分享、實際案例分析,助力參會者提升專業技能,推動電子半導體行業的技術創新和產業升級。誠邀您參會。

會議主題

電子半導體樣品制備和失效分析網絡研討會

會議時間

2025年6月18日14:00-15:30

參會方式

識別下方二維碼即可報名,免費參會


 

特邀司特爾專家分享:電子半導體行業樣品制備和失效分析技術

 

工作流程 

1. 司特爾 Secotom 精密切割機

 

特邀司特爾專家分享:電子半導體行業樣品制備和失效分析技術

 

2. 司特爾 CitoVac 冷鑲嵌真空浸漬儀

 

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3.司特爾 Tegramin-30 自動磨拋機

 

 

特邀司特爾專家分享:電子半導體行業樣品制備和失效分析技術

 

4. Technoorg Linda SMART 離子研磨儀

 

特邀司特爾專家分享:電子半導體行業樣品制備和失效分析技術

 

5. 飛納臺式場發射掃描電鏡

 

特邀司特爾專家分享:電子半導體行業樣品制備和失效分析技術

 

案例展示

 

特邀司特爾專家分享:電子半導體行業樣品制備和失效分析技術

 

使用司特爾 Struers 切割、鑲嵌、磨拋設備對多層陶瓷電容器進行處理的結果。樣品整體平整性好,瓷體邊緣無明顯碎裂和剝落,外部金屬層無明顯劃痕,各層界面清晰。

 

特邀司特爾專家分享:電子半導體行業樣品制備和失效分析技術

 

使用 Technoorg Linda 離子研磨儀處理 MLCC 電極后,結合飛納臺式場發射電鏡能譜分析,發現 MLCC 內電極存在被氧化現象。 

 

關于司特爾 Struers

 

特邀司特爾專家分享:電子半導體行業樣品制備和失效分析技術

 

司特爾 Struers 成立于 1875 年,公司專注于金相制樣設備及耗材的研發和生產,主要包括金相切割、鑲嵌、研磨和拋光、以及硬度測試等設備。產品廣泛應用于質量控制、失效分析和新材料研發,在汽車,電子,航天航空,冶金、高校科研等領域一直處于行業地位,積累了完整高效的解決方案。

 

期待與大家共同探討電子半導體樣品制備和失效分析技術,相信這場網絡研討會將為您帶來寶貴的知識與啟發。感謝您一直以來的支持與關注,期待您的參與!參與網絡研討會,直播間互動,還將會有精品禮品相送哦!

 

特邀司特爾專家分享:電子半導體行業樣品制備和失效分析技術



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